Cooperation
P. Strumiłło
Publications
No. authors title periodic- Niewczas J., Kudra T., Strumiłło P., WoĽniak W.: Stress cracking as a measure of grain quality after thermal drying. (2000 r.) Arun S. Mujumdar, Department of Mechanical and Production Engineering The National University of Singapore Developments in Drying. 2000, Vol. II. Drying of Food and Agro-Products. str. całości 1-240, l.ark.wydaw. 17,1, część autora 1-35, l.ark.wyd. 2,5,
- Strumiłło P., Staworzyński A., Grundas S., Niewczas J.: Computerised X-ray Imaging for grain diagnostics. (1999 r.) 17th ICC Conference, Valencia, Espana, 6-9.06.1999 127, 1999
- Niewczas J., Grundas S., Woźniak W., Strumiłło P.: Changes of some physical properties of wheat kernels during drying assessed by X-ray image analysis. (1999 r.) 17th ICC Conference, Valencia, Espana, 6-9.06.1999 139, 1999
- Strumiłło P., Niewczas J., Szczypiński P., Makowski P., Woźniak W.: Computer system for analysis of X-ray images of wheat grains, (a preliminary announcement). (1999 r.) International Agrophysics 1999, 13, 1, 133-140
- Niewczas J., Woźniak W., Grundas S., Strumiłło P.: Application of a specialized computer program for analysis of X-ray images of selected plant materials. (1998 r.) International Conference Structure and Functionality of Food Products, Mrągowo, 18-20. 05.1998 42, 1998
- Strumiłło P., Grundas S.: X-ray imaging for grain diagnostics. (1998 r.) ICC Conference '98, 16th International Conference ICC "Cereal Science - its Contribution to Health and Well Being" (Międzynarodowe Stowarzyszenie Nauki i Technologii Zbóż ) , Wiedeń, Austria, 9-12.05.1998 22, 1998
- Strumiłło P., Niewczas J., Szczypiński P., Makowski P., Woźniak W.: Computer program for semi-automatic analysis of X-ray images of wheat grains. (1997 r.) 6-th International Conference on Agrophysics, Lublin 15-18.09.1997 r 1997,
- Strumiłło P., Szczypiński P., Makowski P., Niewczas J.: Program do komputerowej analizy obrazów rentgenowskich ziaren pszenicy. (1997 r.) Elektronika.Prace Naukowe Wydziału Techniki i Elektroniki Politechniki Łódzkiej 1997, 2, 101-113
